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高加速溫濕度應力試驗系統(tǒng)
系統(tǒng)能滿足各種封裝形式的Si/SiC/GaN 材料的 IGBT/ DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的HAST試驗。
熱板式高溫反偏
適用于IGBT模塊和SiC模塊的量產老化
存儲器高溫動態(tài)老化測試系統(tǒng)
系統(tǒng)適用于各種封裝形式的SRAM,DRAM,SDRAM ,F(xiàn)LASH,DDR,RDRAM等器件進行高溫動態(tài)老化篩選,并且在老化過程中對被試驗器件(DUT)進行功能測試(TDBI)。
三端穩(wěn)壓器老化系統(tǒng)
系統(tǒng)能滿足各種封裝形式(包括SMD表面貼裝)的78XX、79XX、117、137、200等系列固定、可調三端穩(wěn)壓器老化篩選和壽命試驗。
穩(wěn)壓管 SSOP 試驗系統(tǒng)
系統(tǒng)適用于各種封裝的穩(wěn)壓管(Zener)進行穩(wěn)態(tài)運行功率(SSOP)試驗。
大功率晶體管老化系統(tǒng)
適用于F型、TO-3P/TO220、G型封裝的大功率三極管、MOS管等進行功率老化試驗。
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服務熱線
0571-8585 6333
聯(lián)系郵箱:gk@hzgkdz.com
公司地址:浙江省杭州市余杭區(qū)閑林工業(yè)園裕豐路7號
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